李文明,浮明军,赵维毅.国产化龙芯处理器IIC总线故障分析与改进[J].电工技术,2022(14):111-112
国产化龙芯处理器IIC总线故障分析与改进
  
DOI：10.19768/j.cnki.dgjs.2022.14.033
中文关键词:  许继电气股份有限公司
英文关键词:
基金项目:
作者单位
李文明 国产化
继电保护
IIC总线
匹配电阻
灌流能力 
浮明军 国产化
继电保护
IIC总线
匹配电阻
灌流能力 
赵维毅 国产化
继电保护
IIC总线
匹配电阻
灌流能力 
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中文摘要:
      某国产化继电保护装置测试过程中,监视的温度信息、内部电压有时存在数据异常现象.结合板卡原理图, 分析异常现象,初步判断为龙芯处理器的IIC总线信号异常所致.对IIC总线的 SCL时钟信号和 SDA 数据信号进行 测量、分析,找出了信号异常点.通过修改匹配电阻、缩短 SDA 信号走线距离,消除硬件电路设计缺陷,同时对国 产化龙芯处理器的灌流能力进行分析,为今后类似故障处理提供参考.
英文摘要:
      
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